產(chǎn)品介紹
介質(zhì)損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷制品的一項重要的物理性質(zhì),通過(guò)測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(ε),可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數的各種因素,為提高材料的性能提供依據;該儀器廣泛應用于大專(zhuān)院校、科研院所對無(wú)機非金屬新材料性能的應用研究。儀器遵從標準:GB/T5594.4-1985。
主要技術(shù)指標:
1.頻率范圍及刻度誤差
范圍:50KHz~50MHz共分七個(gè)波段,允許誤差:+2%
1.1:50~150KHz;
1.2:150~450KHz
1.3:450~1500KHz;
1.4:1.5~4.5MHz+
1.5:4.5~12MHz;
1.6:12~25MHz
1.7:25~50MHz;
2.Q值測量范圍及誤差
范圍:5~500
誤差:1)當頻率從5~25KHz
量程5~50+5%
量程15~150+5%
量程50~500+7%
2)當頻率從25~50MHz,所有量程均為+10%
3)△Q范圍:-25~0~+25。
3.電感測量范圍及誤差
范圍:0.1μH~100mH
誤差:+5%+0.01μH
4.試樣尺寸
圓片形:厚度2+0.5mm,直徑為Φ30~40mm(ε
Φ25~35mm(ε=12~30時(shí))
Φ15~20mm(ε>30時(shí))